Εργαστήριο επιστήμης επιφανειών, Πανεπιστήμιο Πάτρας



Γενικά

Το Εργαστήριο Επιστήμης Επιφανειών (ΕΕΕ) άρχισε να λειτουργεί το 1991 ως ερευνητική ομάδα στο Τμήμα Χημικών Μηχανικών του Πανεπιστημίου Πατρών (ΤΧΜ/ΠΠ) με την πρόσθετη οικονομική, τεχνική και διοικητική υποστήριξη του Ινστιτούτου Χημικής Μηχανικής και Χημικών Διεργασιών Υψηλών Θερμοκρασιών του Ιδρύματος Τεχνολογίας και Ερευνας ( ΕΙΧΗΜΥΘ / ΙΤΕ). Από το 2002 το ΕΕΕ έχει θεσμοθετηθεί ως διακριτό Ερευνητικό Εργαστήριο του ΤΧΜ/ΠΠ και έκτοτε δίνει ιδιαίτερη έμφαση στην εφαρμοσμένη έρευνα και την παροχή υπηρεσιών επιφανειακού χαρακτηρισμού. Το γενικό ερευνητικό του αντικείμενο περιλαμβάνει την χρήση μιας πλειάδας εξειδικευμένων τεχνικών για τον χαρακτηρισμό επιφανειών, διεπιφανειών και λεπτών υμενίων στερεών υλικών. Το Εργαστήριο προβάλλεται στο Διαδίκτυο με δική του ιστοσελίδα ( http:// athena4.chemeng.upatras.gr). 


Κύριοι στόχοι

Κατά τον χαρακτηρισμό της επιφάνειας ( σε βάθος μέχρι 10nm) με τη χρήση επιφανειακά ευαίσθητων φασματοσκοπιών ( XPS, UPS, AES, ISS) και τεχνικών περίθλασης (LEED) επιδιώκεται να βρεθεί :
  • Ποια άτομα βρίσκονται εκεί και σε ποιες χημικές ενώσεις συμμετέχουν
  • Ποια είναι η σχετική αναλογία μεταξύ των ανιχνευόμενων ατόμων
  • Ποια είναι η κρυσταλλική δομή στην περίπτωση μονοκρυσταλλικών επιφανειών
  • Το πάχος και επιλεγμένες διεπιφανειακές ηλεκτρονικές ιδιότητες λεπτών υμενίων
Το τελικό ζητούμενο είναι , με ποιόν τρόπο τα παραπάνω επηρεάζουν φυσικές και χημικές διεργασίες που σχετίζονται με βιομηχανικές τεχνολογίες όπως : η μικροηλεκτρονική, οι επιφανειακές επιστρώσεις , η ετερογενής κατάλυση και η παραγωγή νέων σύνθετων υλικών.


Ερευνητική δραστηριότητα

Tα κυριότερα τρέχοντα ερευνητικά θέματα στo EEE αφορούν:
  • Mελέτη πρότυπων καταλυτικών υλικών
  • Διεπιφανειακή συμπεριφορά μεταλλικών υμενίων σε κρυστάλλους οξειδίων
  • Διεπιφάνειες μετάλλων και οξειδίων με ανόργανους ημιαγωγούς (Si, SiC)
  • Διεπιφάνειες μετάλλων /ημιαγωγών με ολιγομερή/πολυμερή για οργανικά ηλεκτρονικά

 

Παροχή εξειδικευμένων υπηρεσιών

Tο ΕΕΕ προσφέρει εξειδικευμένες υπηρεσίες επιφανειακού/διεπιφανειακού χαρακτηρισμού σε συνεργαζόμενες ερευνητικές ομάδες και άλλους δημόσιους και ιδιωτικούς ερευνητικούς φορείς καθώς και στη βιομηχανία. Η παροχή υπηρεσιών επιφανειακής ανάλυσης με την τεχνική της Φασματοσκοπίας Φωτοηλεκτρονίων από Ακτίνες-Χ (XPS) έχει πρόσφατα διαπιστευθεί κατά το ΙSO17025:2005 από το ΕΣΥΔ (Αριθ. Πιστοποιητικού 660 , 12 Μαρτίου 2010).

Micro&Nano 2010 Created by Awapai FlexWeb